Electrical Test Engineer Zusammenfassung Beispiel

Das Reverse chronologischen Lebenslauf Format Listen Berufserfahrung mit Ihrer letzten Position starten und mit Ihren ersten Job zu beenden. Ist weithin anerkannt und gilt für die meisten Arbeitssuchenden. Die umgekehrter chronologischer Reihenfolge Lebensläufe sind leicht zu lesen und Karriere Wachstum hervorheben können.

Dieses Format eignet sich für diejenigen, deren Karriereziele klar definiert sind und deren Arbeitsziele mit ihrer Arbeitshistorie übereinstimmen. Überprüf den Vor- und Nachteile des umgekehrten chronologischen Lebenslaufs. Die umgekehrter chronologischer Reihenfolge Lebenslauf-Format wird von den meisten Job Recruiter bevorzugt.

Darüber hinaus können Sie nach Lebenslaufbeispielen von suchen Energiegewinnung oder von Karriere Situation und verbessern Sie Ihren Lebenslauf mit Schlüsselwörter von der Industrie.

DIE ELEKTRISCHE TEST ENGINEER RESUME-PROBE GIBT STYLISTISCHE IDEEN, DIE SIE FÜR IHREN RESUME VERWENDEN KÖNNEN

Vorname Nachname
Adresse
City, ST ZipCode
Telefon #
E-Mail-Adresse
 
Berufsbild
 
Elektroingenieur mit Erfahrung in der Computertechnik.
  
FACHGEBIETE
 
• VLSI-Design • Steuerungstechnik
• Digitale Signalverarbeitung • Digitales Design
• Netzwerkanalyse • Zufälliges Signal und Rauschen
• Halbleiterbauelemente • Industrieelektronik
• TCP / IP • Rechnerarchitektur
• Stromkreise • LAN
  
EXPERIENCE
 
Zane Company, Fremont, CA
2000 - Gegenwart
Testingenieur
Verantwortlich für Funktionstests, Fehlerbehebung sowie Testprozess- und Anweisungskonfiguration auf Leiterplattenebene. Führen Sie einen IKT-Test für DSL-Karten durch. ein Einbrenntest von Sun Microsystems-Motherboards; Enddiagnosetest des Leistungsmoduls von Intel-CPUs; ein Burn-In-Test des Xilinx-BIOS; und Test von High-End-3DFX-Grafikbeschleunigern.

Projekte:
• Modell Tadpole Cycle Model Motherboard SL120 auf Basis der Sun Microsystems-Architektur: Burning-Test mit 72-Stunden und Sun Solaris 5-Betriebssystem • Acu Comm Internetkommunikation iDAC / iRacer / iModule-Internet-Router-Simulationssystem mit Basis und Terminal: Datenübertragungslängentest Fehlersignal analysieren.
• Quantum 3D AAlchemy 8164 High-End-Grafikbeschleuniger mit 8-integrierten 3DFX-Chipeinheiten: Xilinx BIOS-Burn-In-Test und Fehlerbehebung bei Leiterplatten.
• Vina Tech E-Link 200 / 208 / 216-Netzwerkprodukt (kombiniert T1, Ethernet und RS232): Analyse der Datenverbindung zwischen Kanälen und IC-Controllern.
• Pycon PLB308 Power Module für Intel Pentium III / IV CPU-Kernspannungstest: Endgültige Diagnose und Spannungsanpassung.
• Motherboard und Erweiterung des Adastra ATX / ETX-PCB-Casino-Datensystems: Fehlerbehebung bei der integrierten BGA-, AGP- und PCI-Schnittstelle.

  
BILDUNG
 
International Technology University, Santa Clara, Kalifornien, USA
 
MSEE, Internationale Technologieuniversität, Santa Clara, CA
BSEE, Nationales Taipeher Institut für Technologie, Taipeh, Taiwan
In-Circuit-Testkurs mit HP / Agilent 3070 Series II
Flying Probe Testing Kurs mit GenRad GR Pilot LX und GR Alchemist III von GenRad
  
VERBUNDENE AKADEMISCHE PROJEKTE
 
Lawinenzusammenbruchsspannungen an abrupten und linear abgestuften PN-Übergängen.
- Durchführung einer allgemeinen Analyse der Raumladung, des elektrischen Feldes und der Potentialverteilung in Ge, Si, GaAs und GaP.

Numerische Analyse für die linear abgestufte PN-Verbindung.
- Durchgeführte Fundamentalanalyse nach Poisson und zeitunabhängiger Kontinuitätsgleichung.

Bipolares Transistormodell für Computersimulation.
- Verwendet das Gummel-Poon-Modell, um das Ergebnis von Effekten zweiter Ordnung auf die Eigenschaften von Bipolartransistoren im aktiven Modus zu erhalten.

TAP Controller State Machine mit Verilog HDL.
- Schrieb ein Verhaltensmodell der TAP-Controller-Finite-State-Maschine und erstellte einen Prüfstand zur Ausübung aller Funktionen.


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Viel Glück mit der Probe des Elektrotestingenieurs wieder aufnehmen.